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Materials Reliability in Microelectronics Iii: Volume 309 (Mrs Proceedings) (en Inglés)
Kenneth P. Rodbell
(Ilustrado por)
·
William F. Filter
(Ilustrado por)
·
Harold J. Frost
(Ilustrado por)
·
Cambridge University Press
· Tapa Blanda
Materials Reliability in Microelectronics Iii: Volume 309 (Mrs Proceedings) (en Inglés) - Rodbell, Kenneth P. ; Filter, William F. ; Frost, Harold J.
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Reseña del libro "Materials Reliability in Microelectronics Iii: Volume 309 (Mrs Proceedings) (en Inglés)"
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
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