Compartir
Path Analysis and Genetic Parameter for Grain Yield in Bread Wheat (en Inglés)
Rahul Singh Rajput
(Autor)
·
LAP Lambert Academic Publishing
· Tapa Blanda
Path Analysis and Genetic Parameter for Grain Yield in Bread Wheat (en Inglés) - Rajput, Rahul Singh
52,97 €
58,85 €
Ahorras: 5,89 €
Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista
✓ Producto agregado correctamente a la lista de deseos.
Ir a Mis Listas
Origen: Estados Unidos
(Costos de importación incluídos en el precio)
Se enviará desde nuestra bodega entre el
Miércoles 31 de Julio y el
Miércoles 14 de Agosto.
Lo recibirás en cualquier lugar de España entre 1 y 5 días hábiles luego del envío.
Reseña del libro "Path Analysis and Genetic Parameter for Grain Yield in Bread Wheat (en Inglés)"
The main objective of this book was to determine the correlation and path analysis of yield and yield contributing characters in bread wheat and to assess their suitability in a breeding plan. In agriculture, Path analysis has been used by plant breeders to assist in identifying traits that are useful as selection criteria to improve crop yield. Total correlation between yield and component traits may be sometimes misleading as it might be an over-estimate and under-estimate because of its association with other character. In this research, total correlation are splitted into direct and indirect effects of cause would give more meaningful interpretation to the cause of association between the dependent variable like yield and independent variable like yield component. This kind of information will be helpful in formulating the selection criteria, indicating the selection for desirable characters is likely to bring about on overall improvement in single plant yield directly.
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
El libro está escrito en Inglés.
La encuadernación de esta edición es Tapa Blanda.
✓ Producto agregado correctamente al carro, Ir a Pagar.